频谱分析仪/信号分析仪和信号发生器视频资源库
频谱分析仪/信号分析仪
怎样测量微小信号
快速且稳定地测量调制信号的功率
使用调制波形测量放大器的AM/AM
怎样测量邻道泄漏功率比(ACLR)
如何测量相位噪声和噪声系数
怎样测量频谱发射模板
怎样测量杂散发射
信号发生器
怎样产生 Rx 测试信号
怎样产生 Tx 测试信号
- 怎样测量微小信号
本视频简单易懂地讲解如何使用频谱分析仪/信号分析仪 MS2830A 进行基本的频谱分析仪测量。
- 卓越的动态范围特征(TOI、DANL)
- 扫描型 CAL 发生器实现出色的电平精度
- 采用数字 IF 技术的高速扫描
- 快速且稳定地测量调制信号的功率
测量调制信号的电平曾经非常耗时，本视频将讲解新的快速测量方法。
- 已使用频谱分析仪/信号分析仪的内置信号发生器实施测量
- 测量更快速且无需求平均值，因而大幅缩短测量时间
- 快速且出色的测量可重复性(与 CW 信号相同)
- 使用调制波形测量放大器的AM/AM
这个新的频谱分析仪/信号分析仪功能用于解决在非线性放大器区域中使用网络分析仪时难以评估功率特征的问题。
- 线性及非线性区域中功率特征的差异
- 阐述使用 CW 信号和调制信号所产生的测量结果的差异
- 阐述使用不同类型的调制信号所产生的测量结果的差异
- 怎样测量邻道泄漏功率比(ACLR)
MS2830A 用于解决复杂频谱测量的问题。
- 卓越的动态范围特征（TOI、DANL）
- 与测量窄带通信系统所用的高级测量体系具有相同的相邻信道性能
- 对于复杂的测量（ACLR、SEM 等），操作十分简便（标准和测量项目）
- 怎样产生 Rx 测试信号
安立的矢量信号发生器 MG3710A 提供既简单又方便的配置，用于未来复杂程度不断增加的无线通信系统所需的Rx性能测试，其凭借：
- 两个内置且完全独立、支持 100 kHz至6 GHz的 RF 信号发生器
- 分别用于两个 RF 信号发生器的两个基带信号发生器
- 轻松配置相邻通道干扰、其他通信系统干扰等多个组合信号的能力
- 如何测量相位噪声和噪声系数
MS2830A 是一体化测量解决方案，为研发和制造高频无线电系统使用的部件和组件提供所需的各种测量功能。
- 内置功能：相位噪声测量，声系数测量，模拟和数字调制分析、音频测量、功率计，矢量信号生成功能等
- 各测量功能皆为附加选件
- 优异的动态范围特性（TOI、DANL）
- 怎样产生 Tx 测试信号
LTE-Advanced、MSR（Multi-Standard Radio）、IEEE 802.11ac等多系统、多载波Tx 系统测试所需的复杂多信号可使用矢量信号发生器 MG3710A 灵活的信号生成功能进行配置，其凭借：
- 针对 ACLR、SSB 相位噪声、高输出电平测量具有出色的动态范围特性
- 两个内置且完全独立、支持 100 kHz 至 6 GHz 的 RF 信号发生器
- 适用于LTE/LTE-Advanced、W-CDMA、GSM、CDMA2000、IEEE 802.11a/b/g/n、AWGN 等各种系统的 Tx 测试的内置标准波形模式
- 怎样测量频谱发射模板
MS2830A 解决了频谱测量中需要复杂设置和编辑测量结果这两个问题。它具备：
- 卓越的动态范围特征（TOI、DANL）
- 简化复杂的设置和测量操作
- 结果包含“通过/失败”评估、最差值、性能安全系数等
- 怎样测量杂散发射
MS2830A 解决了频谱测量中需要复杂设置和编辑测量结果这两个问题。它具备：
- 卓越的动态范围特征（TOI、DANL）
- 简化复杂的设置和测量操作
- 结果包含“通过/失败”评估、最差值、性能安全系数等