SS-OCT测量-分析方法和实际测量示例

SS-OCT Measurement - Analysis Method and Actual Measurement Examples -

光学相干层析成像(OCT)是一种利用光对内部结构进行检测的非接触技术。OCT通过光照射物体,并利用内部折射率边界面反射光和参考光产生的干涉信号计算相对距离,从而可视化内部结构。它被广泛用于生物组织的检查,主要用于眼科。

本白皮书解释了SS-OCT的测量原理和一些例子。

 

白皮书目录如下:

1. 导言

2. OCT-SS测量流程

 2.1 测量原理

 2.2 干涉仪配置示例

 2.3 线性化处理和采样

    2.3.1 硬件线性化处理

    2.3.2 软件线性化处理

 2.4  延误赔偿

 2.5  波长色散补偿

 2.6  参考干涉仪的光程长度差测量   

 2.7  距离计算 

 2.8  波长扫描宽度和分辨率

 2.9  距离测量的时间变化 

3. 测量示例

  3.1 SS-OCT测量

4 摘要

5 参考文献

 

 

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